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B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀

商品品牌:

美泰科儀

商品型號(hào):

B6-C

測(cè)量范圍:

雙晶探頭:0.5-300 mm;

示值精度:

0.25mm-10.0mm范圍內(nèi):±(0.005T+0.05)mm;

通訊存儲(chǔ):

內(nèi)置可充電鋰電池 3.7V

待機(jī)時(shí)間:

不少于8小時(shí)

主機(jī)重量:

150g

外形尺寸:

12*5.7*2CM

包裝尺寸:

34*30*10CM

含包裝總重量:

1.55kg

產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品總述
  • 圖文說明
  • 技術(shù)參數(shù)
  • 基本配置
  • 可選配置

產(chǎn)品詳情

  • 總述
  • 圖文
  • 參數(shù)
  • 標(biāo)配
  • 選配
  • 產(chǎn)品概述

     美泰進(jìn)口B6-C高精度超聲波測(cè)厚儀,采用2.4寸TFT 240*320彩色液晶顯示屏,探頭可自動(dòng)識(shí)別。支持A掃描和B掃描模式,以圖形顯示多次底波反射信號(hào),能夠精確測(cè)量各類金屬及其合金產(chǎn)品的厚度、表面帶有保護(hù)涂層的金屬厚度測(cè)量、涂層厚度測(cè)量、以及非金屬產(chǎn)品(塑料,陶瓷和其他)厚度測(cè)量。被廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等領(lǐng)域的生產(chǎn)設(shè)備中各種管道及壓力容器腐蝕減薄程度的監(jiān)測(cè),也可用于對(duì)各種板材及各種加工零件做精確的測(cè)量。是提高生產(chǎn)效率與合格率、節(jié)約成本必備的專業(yè)精密儀器。

    功能用途

    ?適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度。

    ?可測(cè)量各類金屬及其合金制品的厚度,可穿透保護(hù)涂層對(duì)基材厚度進(jìn)行測(cè)量,并可顯示涂層厚度值。

    工作原理

    探頭產(chǎn)生超聲波脈沖透過耦合劑到達(dá)被測(cè)體,部分超聲信號(hào)被物體底面反射,探頭接收由被測(cè)體底面反射的回波,精確地計(jì)算超聲波的往返時(shí)間,并按下式計(jì)算厚度值,再將計(jì)算結(jié)果顯示出來。

    H=v×t/2

    式中:H-測(cè)量厚度    v-材料聲速    t-超聲波在試件中往返一次的傳播時(shí)間

    為確保探頭正常工作,需使用耦合劑以隔絕探頭表面與待測(cè)工件表面間的空氣,這種液體用于探頭及工件間的耦合,稱之為耦合劑。

    工作條件

    環(huán)境溫度:-20℃~+50℃;

    相對(duì)濕度:≤90%;

    周圍環(huán)境無強(qiáng)烈振動(dòng)、無強(qiáng)烈磁場(chǎng)、無腐蝕性介質(zhì)及嚴(yán)重粉塵。

    儀器特點(diǎn)

    ?2.4寸TFT彩色液晶顯示屏(分辨率:240×320);

    ?在A掃描模式下,支持以圖形顯示多次底波反射信號(hào),可支持B掃描模式;

    ?可自動(dòng)識(shí)別探頭,兼容多種不同頻率、不同晶片尺寸的雙晶探頭;

    ?支持E-E-E模式和P-E-CT模式,可精確測(cè)量涂層下金屬(如鋼、鑄鐵、鋁、銅等)厚度;

    ?在P-E-Ct模式下可測(cè)量表面涂層厚度;

    ?可以使用超聲波方法對(duì)非金屬產(chǎn)品(塑料,陶瓷和其他)進(jìn)行厚度測(cè)量;

    ?儀器內(nèi)置29種不同材料的標(biāo)準(zhǔn)聲速值,可隨時(shí)調(diào)用;

    ?涂層聲速值可單獨(dú)設(shè)定,確保不同的涂層材料,其厚度測(cè)量值準(zhǔn)確(默認(rèn)是油漆聲速)。

    操作方法及注意事項(xiàng)

    儀器的保養(yǎng)與維護(hù)

  • 儀器重量 150g
    外觀尺寸 120×57×20mm
    連續(xù)工作時(shí)間 不少于8小時(shí)
    工作溫度范圍 -20~+50℃
    電源 內(nèi)置可充電鋰電池 3.7V
    測(cè)量精度 0.25mm-10.0mm范圍內(nèi):±(0.005T+0.05)mm;
    測(cè)量分辨率 0.1mm;0.01mm
    超聲波傳播速度 1000-9999 m / s
    測(cè)量厚度范圍(對(duì)于鋼)*T 雙晶探頭:0.5-300 mm;單晶探頭(帶延遲塊):0.25-10mm用于鋼;可穿透涂層的雙晶探頭(用于厚度≤2.0mm的保護(hù)涂層下的金屬測(cè)量):0.25~100mm
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